Grundlagen der Hochfrequenz-Messtechnik

Inhaltsverzeichnis

'1 Einige Komponenten der Hochfrequenz-Messtechnik.- 1.1 Wichtige Matrixbeschreibungen von Vierpolen.- 1.1.1 Die Streumatrix [S].- 1.1.2 Die Transmissionsmatrix [?].- 1.1.3 Die Kettenmatrix oder ABCD-Matrix.- 1.1.4 Die Kettenmatrizen von häufig auftretenden Ersatzschaltungen.- 1.2 Einstellbare Dämpfungsglieder.- 1.2.1 Ein Hohlleiter-Dämpfungsglied.- 1.3 Reflektometerschaltungen.- 1.3.1 Leitungskoppler.- 1.3.2 Ein resistiver Koppler.- 1.3.3 Ein Transformatorkoppler.- 1.3.4 Ein Null-Grad-Koppler mit ?/4-Leitungen.- 1.4 Phasenschieber.- 1.5 Breitbanddetektoren.- 1.6 Leistungsmessung.- 1.6.1 Leistungsmessung mit Thermoelementen.- 1.6.2 Thermistormessbrücke.- 1.6.3 Leistungsmessung mit Schottky-Dioden.- 1.7 Detektoren mit Feldeffekttransistoren.- 1.7.1 Statische Kennlinien und Kleinsignalverhalten.- 1.7.2 Gleichrichtung an der Drain-Source-Strecke.- 1.7.3 Gesteuerte Gleichrichtung.- 2 Skalare Vierpolmessungen.- 2.1 Messung skalarer Vierpolparameter.- 2.1.1 Transmissions-und Reflexionsmessungen.- 2.1.2 Fehler bei Transmissionsmessungen.- 2.1.3 Fehler bei Reflexionsmessungen.- 2.1.4 Skalare Messungen mit Modulation.- 2.2 Messungen mit der Messleitung.- 2.3 Sechstormessungen.- 2.3.1 Leistungsmessungen mit der Sechstormethode.- 2.3.2 Reflexionsmessungen mit der Sechstormethode.- 2.4 Brückenmessungen.- 3 Mischer, Phasenregelkreise und Schrittgeneratoren.- 3.1 Das Überlagerungs-oder Heterodynprinzip.- 3.2 Parametrische Rechnung.- 3.2.1 Abwärtsmischer mit Schottky-Dioden.- 3.3 Ausführungsformen von Mischern.- 3.3.1 Der Ein-Dioden-Mischer.- 3.3.2 Der balancierte Mischer (2-Dioden-Mischer).- 3.3.3 Der doppelt balancierte Mischer (4-Dioden-Mischer).- 3.3.4 Mischer mit einem Feldeffekt-Transistor.- 3.3.5 Der Zwei-FET-Mischer.- 3.3.6 Analog-Multiplizierer.- 3.3.7 Der Oberwellen-Mischer.- 3.4 Grundlagen der Phasenregelkreise.- 3.5 Analoge und digitale Phasendiskriminatoren.- 3.5.1 Ein periodischer und symmetrischer digitaler Phasendiskriminator mit bereichsweise linearer Kennlinie.- 3.5.2 Ein digitaler Phasendiskriminator mit linearer und unsymmetrischer Kennlinie auf der Basis eines flankengetriggerten Flip-Flops.- 3.5.3 Ein periodischer und unsymmetrischer Phasendiskriminator mit bereichsweise linearer Kennlinie.- 3.6 Phasen-Frequenz-Diskriminatoren.- 3.6.1 Ein Phasen-Frequenz-Diskriminator auf der Basis von flankengetriggerten Flip-Flops.- 3.6.2 Ein Phasen-Frequenz-Diskriminator auf der Basis von Logik-Gattern.- 3.7 Grundlagen der Schritt-und Synthesegeneratoren.- 3.7.1 Mitlaufende Wobbelsender.- 3.7.2 Schrittgeneratoren.- 3.8 Phasenregelkreise mit fraktionalen Teilern.- 3.8.1 Anwendung der Sigma-Delta-Modulation.- 3.8.2 Mehrfachintegration.- 4 Grundlagen der Systemfehlerkorrektur von Netzwerkanalysatoren.- 4.1 Heterodyne Netzwerkanalysatoren.- 4.1.1 Aufbau des heterodynen Netzwerkanalysators.- 4.2 Erfassung der Systemfehler.- 4.2.1 Automatische Systemfehlerkorrektur bei Netzwerkanalysatoren.- 4.2.2 Kalibriermessungen und Systemfehlerkorrektur beim 5-Term-Verfahren.- 4.2.3 Reflektometer-Kalibrierung nach dem 3-Term-Verfahren.- 4.3 Systemfehlerkorrektur ohne Vertauschen der Tore des Messobjekts.- 4.3.1 10-Term-Verfahren für Netzwerkanalysatoren mit drei Messstellen.- 4.3.2 Netzwerkanalysatoren mit vier Messstellen.- 4.3.3 Realisierung der Reflektometer ohne Richtkoppler.- 4.4 Kalibrierverfahren.- 4.4.1 Kalibrierung des Vier-Messstellen-Systems mit vollständig bekannten Standardzweitoren.- 4.4.2 Selbstkalibrierung mit teilweise unbekannten Zweitorstandards.- 4.4.3 Selbstkalibrierung mit teilweise unbekannten Zweitorstandards ohne Transmission.- 4.4.4 Darstellung des 10-Term-Verfahrens mit Transmissionsmatrix.- 4.4.5 Darstellung des 10-Term-Verfahrens mit Streumatrix.- 4.4.6 Darstellung des 5-Term-Verfahrens mit Streumatrix.- 4.4.7 Selbstkalibrierung über die Determinantenbedingung eines homogenen Gleichungssystems.- 4.4.8 Kalibrierverfahren ohne