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Schaltverhalten beim IGBT-Transistor

Aufbau und Inbetriebnahme eines Prüfplatzes zur Untersuchung des Schaltverhaltens eines IGBT-Transistors

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Durch die Entdeckung der Halbleitermaterialien und
die damit verbundene Entwicklung der klassischen
Bauelemente Diode, Transistor etc. ist man in der
Lage den elektrischen Strom gerichtet steuern zu
können. Es ist dadurch möglich, den Stromfluß
respektive den Energiefluß auf die spezifischen
Erfordernisse des zu versorgenden Energiewandlers
abzustimmen. Die gezielte Weiterentwicklung dieser
klassischen Bauelemente hat moderne
Leistungshalbleiter hervorgebracht die hochdynamisch
schalten und dabei verhältnismäßig kleine Verluste
verursachen.

Ein weit verbreiteter Vertreter bei den abschaltbaren
Leistungshalbleitern ist der sog. Insulated Gate
Bipolar Transistor, kurz IGBT-Transistor. Das
Ziel dieser Arbeit besteht in dem Bau und der
Inbetriebnahme eines Versuchsstandes zur Darstellung
der charakteristischen Spannungen und Ströme am IGBT.
Anhand der dargestellten Verläufe kann dann am
IGBT-Ersatzschaltbild das transiente Verhalten
erklärt werden.

Produktdetails

Sprache
deutsch
Seitenanzahl
112
Autor/Autorin
Torsten Fiedler
Verlag/Hersteller
Produktart
kartoniert
Gewicht
185 g
Größe (L/B/H)
220/150/7 mm
ISBN
9783639144079

Portrait

Torsten Fiedler

Jahrgang 1978___________________________________

Ausbildung: Kommunikationselektroniker, Berlin 1998

Fachabitur, Berlin 2001_________________________

Diplom-Ingenieur (Fh) Elektrotechnik, Berlin 2008

Beruflicher Werdegang:

Fachberater elektr. Antriebstechnik, Siemens AG, Berlin 2008;

Fachvertrieb Spezialmaschinenbau, Siemens AG, Berlin 2009;

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